الرئيسية
أخبار
ترجمة
مشروع
منتدى
مساعدة
أعضاء
ولوج
سجّل
. .
•سيرة ذاتية
kazandibi00
•كل الترجمات
▪▪ترجمات مطلوبة
•
ترجمات مفضلة
•قائمة المشاريع
•صندوق الوارد
▪تبادل اللّغة المجّاني
•English
•Türkçe
•Français
•Español
•Italiano
•Português brasileiro
•Deutsch
•Română
▪▪عربي
•Русский
•Svenska
•Ελληνικά
•Български
•עברית
•Shqip
•Srpski
•Nederlands
•Dansk
•Português
•Polski
•汉语(简体)
•Lietuvių
•Norsk
•فارسی
•Suomi
•Hrvatski
•日本語
•Català
•Esperanto
•한국어
•Українська
•Føroyskt
•नेपाली
•Kiswahili
كل الترجمات
بحث
ترجمات مطلوبة - kazandibi00
بحث
لغة مصدر
لغة الهدف
نتائج1- 2على مجموع تقريبا2
1
411
لغة مصدر
özet
The atomic force microscope (AFM) is ideally suited for characterizing nanoparticles. It offers the capability of 3D
visualization and both qualitative and quantitative information on many physical properties including size, morphology,
surface texture and roughness. Statistical information, including size, surface area, and volume distributions,
can be determined as well. A wide range of particle sizes can be characterized in the same scan, from 1 nanometer
to 8 micrometers.
ترجمات كاملة
Atomik Kuvvet Mikroskopu
1